失效分析

失效分析网络

失效分析（FA）能找到产品故障的根本原因，有助于在整个产品生命周期内提高可靠性和良率。

由失效分析实验室和专家组成的全球网络为世界各地的分析请求提供支持。该网络可根据您的个案要求提供量身定制的分析支持--无论请求是向哪个地点提交的。
失效分析网络

失效分析（FA）能找到产品故障的根本原因，有助于在整个产品生命周期内提高可靠性和良率。

由失效分析实验室和专家组成的全球网络为世界各地的分析请求提供支持。该网络可根据您的个案要求提供量身定制的分析支持--无论请求是向哪个地点提交的。
失效分析网络

失效分析（FA）能找到产品故障的根本原因，有助于在整个产品生命周期内提高可靠性和良率。

由失效分析实验室和专家组成的全球网络为世界各地的分析请求提供支持。该网络可根据您的个案要求提供量身定制的分析支持--无论请求是向哪个地点提交的。
失效分析网络

从最初的项目构思和原型开始，英飞凌的全球失效分析（FA）组织就伴随着产品的整个生命周期。得益于对产品开发的早期参与，失效分析实验室已做好充分准备，掌握了各种前沿的失效分析 方法和工具，以及有关产品特性和历史的全面知识。
失效分析网络

从最初的项目构思和原型开始，英飞凌的全球失效分析（FA）组织就伴随着产品的整个生命周期。得益于对产品开发的早期参与，失效分析实验室已做好充分准备，掌握了各种前沿的失效分析 方法和工具，以及有关产品特性和历史的全面知识。
失效分析网络

从最初的项目构思和原型开始，英飞凌的全球失效分析（FA）组织就伴随着产品的整个生命周期。得益于对产品开发的早期参与，失效分析实验室已做好充分准备，掌握了各种前沿的失效分析 方法和工具，以及有关产品特性和历史的全面知识。
分析流程

分析流程会根据具体情况量身定制：从电性验证开始，将包含光学检测与X 射线检测的无损分析技术，与精细的失效定位、样品制备及可视化分析相结合。为精确定位并了解失效机制，先进的方法和工具可通过晶体管级纳米探针，甚至原子分辨率透射电子显微镜（TEM）成像，进行纳米尺度的分析。基于 KI 的数据分析和持续的方法开发优化了这一流程，以获得快速、高质量的分析结果。
分析流程

分析流程会根据具体情况量身定制：从电性验证开始，将包含光学检测与X 射线检测的无损分析技术，与精细的失效定位、样品制备及可视化分析相结合。为精确定位并了解失效机制，先进的方法和工具可通过晶体管级纳米探针，甚至原子分辨率透射电子显微镜（TEM）成像，进行纳米尺度的分析。基于 KI 的数据分析和持续的方法开发优化了这一流程，以获得快速、高质量的分析结果。
分析流程

分析流程会根据具体情况量身定制：从电性验证开始，将包含光学检测与X 射线检测的无损分析技术，与精细的失效定位、样品制备及可视化分析相结合。为精确定位并了解失效机制，先进的方法和工具可通过晶体管级纳米探针，甚至原子分辨率透射电子显微镜（TEM）成像，进行纳米尺度的分析。基于 KI 的数据分析和持续的方法开发优化了这一流程，以获得快速、高质量的分析结果。