这是机器翻译的内容,点击这里了解更多

HiRel 拟合率工具

nobutton

关于

为了支持我们的客户为其高可靠性应用选择最可靠的解决方案,我们开发了专为我们的 HiRel 功率分立器件设计的 FIT 率工具。这个直观的工具使您能够估算我们组件的 FIT 率,并对最能满足您要求的解决方案做出明智的决策。

利用英飞凌的 FIT 率工具,您可以:

  • 估算我们的 HiRel 功率分立器件的 FIT 率
  • 比较不同组件的可靠性
  • 选择满足高可靠性应用严格要求的解决方案

在航空航天和国防等高可靠性行业中,电子元件的可靠性至关重要。在英飞凌,我们了解提供即使在最极端的环境下也能完美运行的行业领先解决方案的重要性。

衡量电子元件可靠性的一个关键指标是时间故障率 (FIT)。FIT 率表示在十亿小时的运行中预计发生的故障次数。该指标为了解高可靠性应用中组件的性能提供了重要的见解。

在英飞凌,我们致力于提供满足最高可靠性和性能标准的创新解决方案。我们的 FIT 率工具只是我们致力于支持客户追求卓越的一个例子。探索我们业界领先的高可靠性解决方案组合,并了解我们如何帮助您实现目标。

要使用 FIT 率工具,请按照以下步骤操作:

  1. 设备选择:首先从搜索栏中选择一个设备。这将使您能够访问所选设备的相关可靠性数据。
  2. 输入参数:如果所选设备有可靠性数据,系统将提示您输入以下参数:
    • 热活化能
    • 外壳温度
    • 卡方置信水平

请注意,并非所有英飞凌 HiRel 功率分立器件都具有可用的可靠性数据。如果您无法在工具中找到所需的英飞凌 HiRel 设备,请联系我们的支持团队hirel-discretes@infineon.com以获得进一步帮助。

该工具提供的 FIT 率估算基于行业认可的标准 JEDEC JESD85“以 FIT 为单位计算故障率的方法”。为了确保最高的准确度,我们的计算方法采用了包含来自同一技术代和极性的类似产品的样本量。这种方法使我们能够利用更大样本量的统计优势,从而提高我们的 FIT 率估计的可靠性。

对于 HiRel MOSFET,我们的 FIT 测试数据包含最低应力水平为 80% 的高温反向偏置 (HTRB) 数据。由此得出的 FIT 率代表了对芯片磨损的经验估计,与封装和总电离剂量 (TID) 等级无关。必须注意的是,给定组件的实际 FIT 率可能因其具体应用和操作条件而异,这可能与该工具提供的估计值有所不同。所有可靠性测试均按照相关行业标准进行,确保最高水平的质量和一致性。

FIT 率计算的局限性

必须了解的是,此工具提供的 FIT 率计算不适用于功能安全应用。该工具旨在提供可靠性的总体估计,其输出不应依赖于安全关键目的。

对于需要符合功能安全标准的应用,必须遵循相关行业标准中概述的指南和方法,例如 IEC 62380、IEC 61709、SN 29500、FIDES 等。这些标准为估算原始 FIT 率提供了必要的框架,而 FIT 率是安全关键系统设计的关键组成部分。

通过使用此工具,您承认您理解并接受这些限制,并且您不会在未根据适用行业标准进行进一步评估和验证的情况下将计算出的 FIT 率用于功能安全目的。

为了支持我们的客户为其高可靠性应用选择最可靠的解决方案,我们开发了专为我们的 HiRel 功率分立器件设计的 FIT 率工具。这个直观的工具使您能够估算我们组件的 FIT 率,并对最能满足您要求的解决方案做出明智的决策。

利用英飞凌的 FIT 率工具,您可以:

  • 估算我们的 HiRel 功率分立器件的 FIT 率
  • 比较不同组件的可靠性
  • 选择满足高可靠性应用严格要求的解决方案

在航空航天和国防等高可靠性行业中,电子元件的可靠性至关重要。在英飞凌,我们了解提供即使在最极端的环境下也能完美运行的行业领先解决方案的重要性。

衡量电子元件可靠性的一个关键指标是时间故障率 (FIT)。FIT 率表示在十亿小时的运行中预计发生的故障次数。该指标为了解高可靠性应用中组件的性能提供了重要的见解。

在英飞凌,我们致力于提供满足最高可靠性和性能标准的创新解决方案。我们的 FIT 率工具只是我们致力于支持客户追求卓越的一个例子。探索我们业界领先的高可靠性解决方案组合,并了解我们如何帮助您实现目标。

要使用 FIT 率工具,请按照以下步骤操作:

  1. 设备选择:首先从搜索栏中选择一个设备。这将使您能够访问所选设备的相关可靠性数据。
  2. 输入参数:如果所选设备有可靠性数据,系统将提示您输入以下参数:
    • 热活化能
    • 外壳温度
    • 卡方置信水平

请注意,并非所有英飞凌 HiRel 功率分立器件都具有可用的可靠性数据。如果您无法在工具中找到所需的英飞凌 HiRel 设备,请联系我们的支持团队hirel-discretes@infineon.com以获得进一步帮助。

该工具提供的 FIT 率估算基于行业认可的标准 JEDEC JESD85“以 FIT 为单位计算故障率的方法”。为了确保最高的准确度,我们的计算方法采用了包含来自同一技术代和极性的类似产品的样本量。这种方法使我们能够利用更大样本量的统计优势,从而提高我们的 FIT 率估计的可靠性。

对于 HiRel MOSFET,我们的 FIT 测试数据包含最低应力水平为 80% 的高温反向偏置 (HTRB) 数据。由此得出的 FIT 率代表了对芯片磨损的经验估计,与封装和总电离剂量 (TID) 等级无关。必须注意的是,给定组件的实际 FIT 率可能因其具体应用和操作条件而异,这可能与该工具提供的估计值有所不同。所有可靠性测试均按照相关行业标准进行,确保最高水平的质量和一致性。

FIT 率计算的局限性

必须了解的是,此工具提供的 FIT 率计算不适用于功能安全应用。该工具旨在提供可靠性的总体估计,其输出不应依赖于安全关键目的。

对于需要符合功能安全标准的应用,必须遵循相关行业标准中概述的指南和方法,例如 IEC 62380、IEC 61709、SN 29500、FIDES 等。这些标准为估算原始 FIT 率提供了必要的框架,而 FIT 率是安全关键系统设计的关键组成部分。

通过使用此工具,您承认您理解并接受这些限制,并且您不会在未根据适用行业标准进行进一步评估和验证的情况下将计算出的 FIT 率用于功能安全目的。

设计资源