Computed tomography

Innovative CT solutions from ADCs to integrated sensors and photon‑counting detectors for sharper images, faster scans, and lower radiation dose.

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概述

Infineon delivers advanced ASIC and sensor solutions for computed tomography, covering value, performance, and premium X-ray detectors, up to photon counting. From ADCs to integrated sensors and modules, the scalable portfolio enables high image quality, fast acquisition, and low-dose operation, supporting next-generation CT system design across a wide range of applications.

关键特性

  • Enables best image quality
  • Ultra-low noise
  • Fastest rotational speed
  • High-resolution output
  • Low-dose operation
  • Optimized low power
  • Scalable detector design
  • Photon-counting
  • Custom ASIC & ASSP Solutions
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产品

关于

CT传感器：集成ADC和光电二极管阵列

AS595x 和 AS596x 系列（包括模块变体）提供完全集成的 CT 传感器解决方案，将光电二极管阵列和高性能 ADC 集成在单个芯片上。将多个组件集成到一个设备中，可以降低互连复杂性，降低系统成本，并提高信噪比、电源效率和图像质量。

该产品组合涵盖价值、性能和高端领域，可在各种 CT 架构中实现可扩展的系统设计。成熟的器件如 AS5952 支持经济高效的成像，而下一代 AS5966 利用 TSV 技术实现真正的四边拼接设计，从而能够实现具有均匀像素间距的大面积探测器。

这些解决方案专为医疗、工业和安防 CT 而设计，支持从入门级到高端平台的可扩展多层切片系统。集成的校准、参考生成和低噪声读出功能可实现高速、低剂量操作。

灵活的选项，直至完全集成的模块，可加速系统开发，并为下一代 CT 设计提供面向未来的保障。

探测器接口集成AFE和ADC

AS590x 和 AS591x 系列是多通道探测器接口 IC，结合了低噪声模拟前端和高分辨率电流-数字转换，可在 CT 系统和 X 射线线扫描仪中实现基于光电二极管的探测器的精确高效读出。

每个通道都集成了电荷积分、采样保持和多级ADC转换，可提供高达26位分辨率和超低输入参考噪声。即使在低 X 射线剂量下，也能确保出色的图像质量和可靠的信号完整性。

这些器件支持多达 512 个通道，零死时间，无电荷损失，可同时进行高速读出，满足高要求成像系统的需求。集成式AFE可直接连接光电二极管阵列，最大限度地减少外部电路。

片上电压基准、LDO、温度传感和校准功能可降低系统复杂性、物料清单和占地面积。可扩展的架构支持 128、256 和 512 个通道，可实现灵活的系统设计，从紧凑型线扫描仪到高性能 CT 系统，同时保持出色的功率噪声比。

CT和高级X射线系统的光子计数

光子计数技术代表了 X 射线探测领域的一项重大进步，它能够直接转换和计数单个光子，包括能量信息。与传统的积分探测器不同，这种方法能够提供精确的信号量化和光谱成像功能。

通过同时捕获光子数量和能量，光子计数能够实现更高的空间分辨率、更高的对比噪声比和材料区分。这样可以提高图像质量，减少伪影，并提高诊断准确性。

其主要优势在于卓越的剂量效率，能够在显著降低的辐射水平下实现高质量的成像。这使得光子计数成为下一代 CT 系统的关键推动因素。

英飞凌通过先进的模块解决方案支持这一发展，包括具有高度集成的传感器和读出功能的系统级封装架构。可扩展的集成和可拼接设计实现了高分辨率探测器和灵活的系统架构，支持面向未来的 CT 和先进的 X 射线成像应用。

用于先进X射线探测器的定制ASIC解决方案

英飞凌为数字 X 射线和 CT 系统提供定制 ASIC 解决方案，将深厚的应用专业知识与成熟的 IP 和可扩展平台的全面组合相结合。凭借在 X 射线探测、光学传感和混合信号设计方面的丰富经验，我们能够为医疗、工业和安防成像等领域提供特定应用解决方案。

我们的能力涵盖整个信号链——从模拟前端和传感器接口到读出、高分辨率数据转换、数字处理和系统集成。利用经过验证的构建模块和基于平台的架构，我们能够实现高效的定制，降低风险，加快产品上市速度。

我们与客户紧密合作，将分辨率、速度、动态范围和功耗等系统要求转化为优化的硅解决方案。无论是扩展成熟的平台还是开发新的设计，我们的方法都能确保高性能、可扩展性以及与先进探测器系统的无缝集成。

对传感器接口专用集成电路 (ASIC) 感兴趣吗？联系我们： sensor.asic@infineon.com

CT传感器：集成ADC和光电二极管阵列

AS595x 和 AS596x 系列（包括模块变体）提供完全集成的 CT 传感器解决方案，将光电二极管阵列和高性能 ADC 集成在单个芯片上。将多个组件集成到一个设备中，可以降低互连复杂性，降低系统成本，并提高信噪比、电源效率和图像质量。

该产品组合涵盖价值、性能和高端领域，可在各种 CT 架构中实现可扩展的系统设计。成熟的器件如 AS5952 支持经济高效的成像，而下一代 AS5966 利用 TSV 技术实现真正的四边拼接设计，从而能够实现具有均匀像素间距的大面积探测器。

这些解决方案专为医疗、工业和安防 CT 而设计，支持从入门级到高端平台的可扩展多层切片系统。集成的校准、参考生成和低噪声读出功能可实现高速、低剂量操作。

灵活的选项，直至完全集成的模块，可加速系统开发，并为下一代 CT 设计提供面向未来的保障。

探测器接口集成AFE和ADC

AS590x 和 AS591x 系列是多通道探测器接口 IC，结合了低噪声模拟前端和高分辨率电流-数字转换，可在 CT 系统和 X 射线线扫描仪中实现基于光电二极管的探测器的精确高效读出。

每个通道都集成了电荷积分、采样保持和多级ADC转换，可提供高达26位分辨率和超低输入参考噪声。即使在低 X 射线剂量下，也能确保出色的图像质量和可靠的信号完整性。

这些器件支持多达 512 个通道，零死时间，无电荷损失，可同时进行高速读出，满足高要求成像系统的需求。集成式AFE可直接连接光电二极管阵列，最大限度地减少外部电路。

片上电压基准、LDO、温度传感和校准功能可降低系统复杂性、物料清单和占地面积。可扩展的架构支持 128、256 和 512 个通道，可实现灵活的系统设计，从紧凑型线扫描仪到高性能 CT 系统，同时保持出色的功率噪声比。

CT和高级X射线系统的光子计数

光子计数技术代表了 X 射线探测领域的一项重大进步，它能够直接转换和计数单个光子，包括能量信息。与传统的积分探测器不同，这种方法能够提供精确的信号量化和光谱成像功能。

通过同时捕获光子数量和能量，光子计数能够实现更高的空间分辨率、更高的对比噪声比和材料区分。这样可以提高图像质量，减少伪影，并提高诊断准确性。

其主要优势在于卓越的剂量效率，能够在显著降低的辐射水平下实现高质量的成像。这使得光子计数成为下一代 CT 系统的关键推动因素。

英飞凌通过先进的模块解决方案支持这一发展，包括具有高度集成的传感器和读出功能的系统级封装架构。可扩展的集成和可拼接设计实现了高分辨率探测器和灵活的系统架构，支持面向未来的 CT 和先进的 X 射线成像应用。

用于先进X射线探测器的定制ASIC解决方案

英飞凌为数字 X 射线和 CT 系统提供定制 ASIC 解决方案，将深厚的应用专业知识与成熟的 IP 和可扩展平台的全面组合相结合。凭借在 X 射线探测、光学传感和混合信号设计方面的丰富经验，我们能够为医疗、工业和安防成像等领域提供特定应用解决方案。

我们的能力涵盖整个信号链——从模拟前端和传感器接口到读出、高分辨率数据转换、数字处理和系统集成。利用经过验证的构建模块和基于平台的架构，我们能够实现高效的定制，降低风险，加快产品上市速度。

我们与客户紧密合作，将分辨率、速度、动态范围和功耗等系统要求转化为优化的硅解决方案。无论是扩展成熟的平台还是开发新的设计，我们的方法都能确保高性能、可扩展性以及与先进探测器系统的无缝集成。

对传感器接口专用集成电路 (ASIC) 感兴趣吗？联系我们： sensor.asic@infineon.com

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