Digital X-ray

Sensing solutions for flat panel detectors and line scanners, enabling low-noise and high-dynamic-range in medical, industrial and security systems

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概述

Infineon delivers a comprehensive digital X-ray portfolio spanning ROICs (AS585x) to large-scale CMOS sensors (AS586x). Combining low-noise analog front ends, high-resolution conversion, and tileable sensor architectures, the solutions enable superior image quality, high dynamic range, and optimized cost-performance across medical, industrial, and security applications.

关键特性

  • Low-noise signal acquisition
  • High dynamic range imaging
  • High frame rates and throughput
  • Scalable, tileable detectors
  • Optimized cost-performance
  • Flexible system integration
  • Broad X-ray application coverage
  • Custom ASIC & ASSP solutions
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产品

关于

用于X射线平板探测器和线扫描仪的读出集成电路

AS585x 和 AS587x 系列是用于数字 X 射线平板探测器和线扫描仪的高性能读出 IC，代表了跨越不同性能等级的几代优化解决方案。它们将低噪声模拟前端与集成的高分辨率数据转换相结合，以实现精确高效的像素读取。

采用相关双采样的电荷敏感放大器可最大限度地减少偏移和闪烁噪声，即使在非常低的剂量下也能实现精确的信号采集，同时保持高动态范围。这既能保证高质量的成像，又能实现高效的剂量控制。

该设备具有 256 个通道、灵活的可编程性，可适应各种探测器尺寸和使用场景，从静态射线照相到高速动态成像。低生产线时间、可配置的分档和多种电源模式可实现成本优化的性能扩展。

芯片级柔性集成简化了探测器设计，并实现了紧凑、高度集成的系统，使这些集成电路成为现代 X 射线平台在医疗、工业和安防应用领域的强大基础。

用于X射线成像的大规模CMOS传感器解决方案

大规模 CMOS 系列包含用于高分辨率、高速数字 X 射线成像和间接检测的先进传感器解决方案。该平台将大面积像素阵列与信号处理相结合，从而实现可扩展的下一代平板探测器架构。

多种像素尺寸和高填充因子支持在各种应用中实现优化的灵敏度和分辨率。

高帧率、低噪声运行和可编程读出模式（包括感兴趣区域和像素合并）可实现出色的图像质量，同时优化数据吞吐量和剂量效率。

该架构支持拼接和缝合，以实现大面积探测器，从而能够灵活扩展以适应不同的系统尺寸。结合高灵敏度和低剂量能力，这确保了在医疗、工业和安防应用中实现高效、高分辨率成像。

 

探测器接口集成AFE和ADC 

AS590x 和 AS591x 系列是多通道探测器接口 IC，结合了低噪声模拟前端和高分辨率电流-数字转换，可在 CT 系统和 X 射线线扫描仪中实现基于光电二极管的探测器的精确高效读出。

每个通道都集成了电荷积分、采样保持和多级ADC转换，可提供高达26位分辨率和超低输入参考噪声。即使在低 X 射线剂量下，也能确保出色的图像质量和可靠的信号完整性。

这些器件支持多达 512 个通道，零死时间，无电荷损失，可同时进行高速读出，满足高要求成像系统的需求。集成式AFE可直接连接光电二极管阵列，最大限度地减少外部电路。

片上电压基准、LDO、温度传感和校准功能可降低系统复杂性、物料清单和丝印。可扩展的架构支持 128、256 和 512 个通道，可实现灵活的系统设计，从紧凑型线扫描仪到高性能 CT 系统，同时保持出色的功率噪声比。

面向先进传感器系统的定制ASIC解决方案

英飞凌为数字 X 射线和 CT 系统提供定制 ASIC 解决方案，将深厚的应用专业知识与成熟的 IP 和可扩展平台的全面组合相结合。凭借在 X 射线探测、光学传感和混合信号设计方面的丰富经验，我们能够为医疗、工业和安防成像等领域提供特定应用解决方案。

我们的能力涵盖整个信号链——从模拟前端和传感器接口到读出、高分辨率数据转换、数字处理和系统集成。利用经过验证的构建模块和基于平台的架构，我们能够实现高效的定制，降低风险，加快产品上市速度。

我们与客户紧密合作，将分辨率、速度、动态范围和功耗等系统要求转化为优化的硅解决方案。无论是扩展成熟的平台还是开发新的设计，我们的方法都能确保高性能、可扩展性以及与先进探测器系统的无缝集成。

用于X射线平板探测器和线扫描仪的读出集成电路

AS585x 和 AS587x 系列是用于数字 X 射线平板探测器和线扫描仪的高性能读出 IC，代表了跨越不同性能等级的几代优化解决方案。它们将低噪声模拟前端与集成的高分辨率数据转换相结合，以实现精确高效的像素读取。

采用相关双采样的电荷敏感放大器可最大限度地减少偏移和闪烁噪声，即使在非常低的剂量下也能实现精确的信号采集，同时保持高动态范围。这既能保证高质量的成像，又能实现高效的剂量控制。

该设备具有 256 个通道、灵活的可编程性，可适应各种探测器尺寸和使用场景，从静态射线照相到高速动态成像。低生产线时间、可配置的分档和多种电源模式可实现成本优化的性能扩展。

芯片级柔性集成简化了探测器设计，并实现了紧凑、高度集成的系统，使这些集成电路成为现代 X 射线平台在医疗、工业和安防应用领域的强大基础。

用于X射线成像的大规模CMOS传感器解决方案

大规模 CMOS 系列包含用于高分辨率、高速数字 X 射线成像和间接检测的先进传感器解决方案。该平台将大面积像素阵列与信号处理相结合，从而实现可扩展的下一代平板探测器架构。

多种像素尺寸和高填充因子支持在各种应用中实现优化的灵敏度和分辨率。

高帧率、低噪声运行和可编程读出模式（包括感兴趣区域和像素合并）可实现出色的图像质量，同时优化数据吞吐量和剂量效率。

该架构支持拼接和缝合，以实现大面积探测器，从而能够灵活扩展以适应不同的系统尺寸。结合高灵敏度和低剂量能力，这确保了在医疗、工业和安防应用中实现高效、高分辨率成像。

 

探测器接口集成AFE和ADC 

AS590x 和 AS591x 系列是多通道探测器接口 IC，结合了低噪声模拟前端和高分辨率电流-数字转换，可在 CT 系统和 X 射线线扫描仪中实现基于光电二极管的探测器的精确高效读出。

每个通道都集成了电荷积分、采样保持和多级ADC转换，可提供高达26位分辨率和超低输入参考噪声。即使在低 X 射线剂量下，也能确保出色的图像质量和可靠的信号完整性。

这些器件支持多达 512 个通道，零死时间，无电荷损失，可同时进行高速读出，满足高要求成像系统的需求。集成式AFE可直接连接光电二极管阵列，最大限度地减少外部电路。

片上电压基准、LDO、温度传感和校准功能可降低系统复杂性、物料清单和丝印。可扩展的架构支持 128、256 和 512 个通道，可实现灵活的系统设计，从紧凑型线扫描仪到高性能 CT 系统，同时保持出色的功率噪声比。

面向先进传感器系统的定制ASIC解决方案

英飞凌为数字 X 射线和 CT 系统提供定制 ASIC 解决方案，将深厚的应用专业知识与成熟的 IP 和可扩展平台的全面组合相结合。凭借在 X 射线探测、光学传感和混合信号设计方面的丰富经验，我们能够为医疗、工业和安防成像等领域提供特定应用解决方案。

我们的能力涵盖整个信号链——从模拟前端和传感器接口到读出、高分辨率数据转换、数字处理和系统集成。利用经过验证的构建模块和基于平台的架构，我们能够实现高效的定制，降低风险，加快产品上市速度。

我们与客户紧密合作，将分辨率、速度、动态范围和功耗等系统要求转化为优化的硅解决方案。无论是扩展成熟的平台还是开发新的设计，我们的方法都能确保高性能、可扩展性以及与先进探测器系统的无缝集成。

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