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600 V 和 650 V CoolMOS™ C7

实现创纪录的效率性能

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概述

英飞凌的 600 V 和 650 V CoolMOS™ C7 超结 (SJ) MOSFET 系列旨在实现创纪录的效率性能,与之前的 CoolMOS™ 系列和竞品相比,在硬开关应用中的整个负载范围内具有显著的效率优势。

关键特性

  • 开关损耗小-低 QG,Coss
  • 与 CoolMOS™ CP 相比,Eoss 减少 50%
  • 硬开关 (600 V & 650 V)
  • 高端谐振 (600V) 拓扑结构

产品

关于

650 V CoolMOS™ C7 — 市场领先、同类最佳,每个封装的导通电阻:与 600 V CoolMOS™ C7 相比,650 V CoolMOS™ C7 系列在一些硬开关应用中带来了新的性能水平,如需要额外 50 V 击穿电压的功率因数校正 (PFC) 等硬开关应用。 它通过平衡多个关键参数,在整个负载范围内提供效率优势。

600 V CoolMOS™ C7 – 我们用于硬开关和高端软开关拓扑的旗舰 CoolMOS™ 技术:与 CoolMOS™ CP 相比,600 V CoolMOS™ C7 系列的关断损耗 (Eoss) 降低了约 50%。 它在 PFC、TTF 和其他硬开关以及高端 LLC 拓扑中提供了卓越的性能,并将硅 MOSFET 的使用扩展到下一代最高效率的电源设计。

BOM(物料清单)成本驱动型应用可以利用 C7 和 TO-247 4 引脚封装组合在满载时获得的效率。 这是通过增加 MOSFET 的 RDS (on) 来实现的,使其与之前的 3 引脚封装满载效率相匹配,从而降低成本(即 40 mΩ VS 70 mΩ 器件)。 开关频率加倍也节省了磁性元件材料。 铜绕组的成本可节省达 30%,铁芯成本可节省达 45%(取决于所使用的材料)。

650 V CoolMOS™ C7 — 市场领先、同类最佳,每个封装的导通电阻:与 600 V CoolMOS™ C7 相比,650 V CoolMOS™ C7 系列在一些硬开关应用中带来了新的性能水平,如需要额外 50 V 击穿电压的功率因数校正 (PFC) 等硬开关应用。 它通过平衡多个关键参数,在整个负载范围内提供效率优势。

600 V CoolMOS™ C7 – 我们用于硬开关和高端软开关拓扑的旗舰 CoolMOS™ 技术:与 CoolMOS™ CP 相比,600 V CoolMOS™ C7 系列的关断损耗 (Eoss) 降低了约 50%。 它在 PFC、TTF 和其他硬开关以及高端 LLC 拓扑中提供了卓越的性能,并将硅 MOSFET 的使用扩展到下一代最高效率的电源设计。

BOM(物料清单)成本驱动型应用可以利用 C7 和 TO-247 4 引脚封装组合在满载时获得的效率。 这是通过增加 MOSFET 的 RDS (on) 来实现的,使其与之前的 3 引脚封装满载效率相匹配,从而降低成本(即 40 mΩ VS 70 mΩ 器件)。 开关频率加倍也节省了磁性元件材料。 铜绕组的成本可节省达 30%,铁芯成本可节省达 45%(取决于所使用的材料)。

文档

设计资源

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