CY7C1069G30-10BVXIT
现货,推荐
符合RoHS标准
无铅

CY7C1069G30-10BVXIT

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CY7C1069G30-10BVXIT
CY7C1069G30-10BVXIT

商品详情

  • 密度
    16 MBit
  • 峰值回流温度
    260 °C
  • 工作温度 范围
    -40 °C 至 85 °C
  • 工作电压 (VCCQ) 范围
    2.2 V 至 3.6 V
  • 工作电压 范围
    2.2 V 至 3.6 V
  • 引线球表面
    Sn/Ag/Cu
  • 接口
    Parallel
  • 目前计划的可用性至少到
    2033
  • 系列
    FAST SRAM
  • 组织(X x Y)
    2M x 8
  • 认证标准
    Industrial
  • 速度
    10 ns
OPN
CY7C1069G30-10BVXIT
产品状态 active and preferred
英飞凌封装名称
封装名 VFBGA-48 (51-85150)
封装尺寸 2000
封装类型 TAPE & REEL
湿度 3
防潮封装 DRY
无铅 Yes
无卤素 Yes
符合RoHS标准 Yes

产品状态
Active
英飞凌封装名称
封装名 VFBGA-48 (51-85150)
封装尺寸 2000
封装类型 TAPE & REEL
湿度 3
防潮封装 DRY
无铅
无卤素
符合 RoHS 标准
CY7C1069G30-10BVXIT是一款16 Mbit(2M×8)异步CMOS SRAM,集成ECC用于单比特错误校正。-10速度等级支持10 ns访问时间。器件工作电源2.2 V至3.6 V,工业温度范围−40°C至+85°C,采用48球VFBGA卷带封装。自动CE掉电电流(CMOS输入)在f=0时规格最高30 mA。

特性

  • 2M字×8位SRAM阵列
  • 内置ECC单比特纠错
  • tAA地址访问低至10 ns
  • 读周期tRC低至10 ns
  • tDOE低至5 ns
  • VCC=1.0 V数据保持
  • 100 MHz时ICC典型90 mA
  • 掉电电流ISB2典型20 mA
  • 双片选输入(CE1,CE2)
  • 未选中时输出高阻
  • TTL兼容输入/输出
  • >2001 V ESD(MIL-STD-883)

产品优势

  • 纠正SRAM单比特软错误
  • 通过ERR简化错误监测
  • 10 ns访问支持高速CPU
  • 5 ns OE实现快速总线读
  • 10 ns读周期提升吞吐
  • 1.0 V保持降低备份功耗
  • 100 MHz下降低运行电流
  • 掉电电流更低降低空闲耗电
  • 双片选便于地址译码
  • 高阻输出便于总线共享
  • TTL电平减少接口逻辑
  • 高ESD提升抗静电可靠性

应用

文档

设计资源

开发者社区

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