CY62167GE30-45ZXI
现货,推荐
符合RoHS标准
无铅

CY62167GE30-45ZXI

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CY62167GE30-45ZXI
CY62167GE30-45ZXI


商品详情

  • 密度
    16 MBit
  • 峰值回流温度
    260 °C
  • 工作温度 范围
    -40 °C 至 85 °C
  • 工作电压 范围
    2.2 V 至 3.6 V
  • 引线球表面
    Pure Sn
  • 接口
    Parallel
  • 目前计划的可用性至少到
    2033
  • 系列
    MoBL™ SRAM
  • 组织(X x Y)
    1M x 16
  • 质量等级
    Industrial

OPN
CY62167GE30-45ZXI
产品状态 active and preferred
英飞凌封装名称
封装名 TSOP-I-48 (51-85183)
封装尺寸 960
封装类型 TRAY
湿度 3
防潮封装 DRY
无铅 Yes
无卤素 Yes
符合RoHS标准 Yes
封装产地
TH
晶圆产地
TW

产品状态
Active
英飞凌封装名称
封装名 TSOP-I-48 (51-85183)
封装尺寸 960
封装类型 TRAY
湿度 3
防潮封装 DRY
无铅
无卤素
符合 RoHS 标准
封装产地
TH
晶圆产地
TW
CY62167GE30-45ZXI是一款16-Mbit MoBL® CMOS SRAM,内置ECC,可配置为1M×16或2M×8,访问时间45 ns。工作电压2.2 V至3.6 V,温度范围-40°C至+85°C,待机电流低至1.5 µA(最大8 µA)。BHE/BLE支持高低字节访问,ERR输出在读周期指示单比特纠错,适用于工业系统的可靠缓存。

特性

  • 16 Mbit SRAM;1M×16/2M×8
  • 内置ECC,单比特纠错
  • ERR输出指示纠错事件
  • VCC工作2.2 V至3.6 V
  • 读周期tRC为45 ns
  • 写周期tWC为45 ns
  • 自动掉电待机1.5 µA典型
  • 待机电流最大8 µA(ISB1)
  • 1.0 V数据保持电压(VDR)
  • TTL兼容输入与输出
  • BHE/BLE支持字节写入
  • I/O电容最大10 pF

产品优势

  • 总线宽度可配,少改板
  • ECC纠正1位存储错误
  • ERR引脚便于故障记录
  • 2.2–3.6 V适配3.3 V系统
  • 45 ns访问支持高速CPU
  • 45 ns写入减少等待周期
  • 1.5 µA典型延长电池续航
  • 8 µA最大降低待机预算
  • 1.0 V保持避免数据丢失
  • TTL I/O便于兼容旧系统
  • 字节使能降低写入功耗
  • 低电容改善信号完整性

应用

文档

设计资源

开发者社区