持久耐用：英飞凌 CoolGaN ™质量和可靠性保证

网络研讨会日期：2025年7月3日 | 上午9点（中欧时间）| 下午5点（中欧时间）

加入我们的网络研讨会，了解英飞凌 CoolGaN ™质量和可靠性的关键方面。我们将讨论技术资格、产品验证和封装可靠性等主题。

您将深入了解 CoolGaN ™认证与硅的差异，了解安全的产品发布方法和监控策略。

参加网络研讨会，您将了解英飞凌如何进行广泛的测试，以提高 GaN 技术的可靠性和性能，解决潜在的故障机制和长期产品稳定性。此外，您还将获得宝贵的资源，进一步了解英飞凌的质量保证实践，使英飞凌成为 GaN 技术的领导者。

您将了解：

  • CoolGaN ™资格和可靠性标准确保符合 JEDEC
  • 产品鉴定和可靠性测试流程和规划
  • 安全的产品发布和监控
赵有生
赵有生
赵有生
马可·西尔维斯特里博士

WBG 质量与可靠性首席工程师

Marco Silvestri 博士拥有意大利帕多瓦大学电子工程学士、硕士和博士学位，主修深亚微米 CMOS 技术的可靠性和电离辐射效应。2008 年，他作为客座博士研究员前往田纳西州纳什维尔的范德堡大学研究 AlGaN/GaN 晶体管电子传输模拟和可靠性。

2010年，他加入意大利泰雷兹阿莱尼亚宇航公司，负责航天器电子设备和国际空间站模块屏蔽结构的辐射分析和支持。他曾担任英国布里斯托大学的博士后研究员，致力于研究先进的捕获表征技术和AlGaN/GaN晶体管的可靠性。

他于 2013 年加入英飞凌科技奥地利公司，担任高级工程师，负责 HV-GaN、RF-GaN 以及后来的 MV-GaN 项目技术开发的可靠性调查。2015 年，他加入 BU-QM，负责新型 HV 和 MV GaN 产品的可靠性和认证。2020年至2023年，他一直担任华为德国纽伦堡研发中心的WBG半导体质量和可靠性专家。

自 2023 年起，他担任首席工程师，领导 GaN BL 的 MV GaN PL73 团队。

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GaN可靠性网络研讨会
July 11, 2023
10:00 ( CEST )

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