CY7C1615KV18-300BZXI
现货,推荐
符合RoHS标准

CY7C1615KV18-300BZXI

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CY7C1615KV18-300BZXI
CY7C1615KV18-300BZXI

商品详情

  • ECC
    N
  • 密度
    144 MBit
  • 峰值回流温度
    260 °C
  • 工作温度 范围
    -40 °C 至 85 °C
  • 工作电压 范围
    1.7 V 至 1.9 V
  • 引线球表面
    Sn/Ag/Cu
  • 接口
    Parallel
  • 数据宽度
    x 36
  • 架构
    QDR-II
  • 片上端接
    N
  • 系列
    QDR-II
  • 组织(X x Y)
    4Mb x 36
  • 脉冲长度 (Words)
    4
  • 认证标准
    Industrial
  • 读取延迟(周期)
    1.5
  • 银行切换
    N
  • 频率
    300 MHz
OPN
CY7C1615KV18-300BZXI
产品状态 active and preferred
英飞凌封装名称
封装名 FBGA-165 (51-85195)
封装尺寸 105
封装类型 TRAY
湿度 3
防潮封装 DRY
无铅 No
无卤素 No
符合RoHS标准 Yes

产品状态
Active
英飞凌封装名称
封装名 FBGA-165 (51-85195)
封装尺寸 105
封装类型 TRAY
湿度 3
防潮封装 DRY
无铅
无卤素
符合 RoHS 标准
CY7C1615KV18-300BZXI是一款144 Mbit QDR II同步流水SRAM(4 M × 36),读写端口独立,可并发访问。支持333 MHz时钟下DDR传输(数据速率666 MHz)与四字突发操作,DOFF为高时读延迟为1.5周期。器件适用于工业温度范围TA −40°C至+85°C,VDD为1.7–1.9 V,VDDQ为1.4 V至VDD,采用165球FBGA封装。

特性

  • 独立读写端口,无需总线翻转
  • 333 MHz时钟,DDR达666 MHz
  • 每地址四字突发传输
  • DOFF=H时1.5周期读延迟
  • DOFF=L时1周期读延迟
  • 单时钟模式(C/C上拉)
  • CQ/CQ回显时钟便于采样
  • PLL稳定时钟后20 us锁定
  • ZQ+RQ可编程输出阻抗
  • BWS[x:0]支持字节写
  • 内核1.7-1.9 V;I/O 1.4 V
  • IEEE 1149.1 JTAG测试口

产品优势

  • 消除总线翻转等待,提高效率
  • 333 MHz时钟实现高带宽
  • 降低地址频率,减少地址引脚
  • 流水线读时序更可预测
  • 可选QDR I更低读延迟
  • 简化时钟方案,降低偏斜风险
  • 回显时钟简化高速采样
  • PLL快速锁定加快上电启动
  • 阻抗匹配改善信号完整性
  • 字节写无需读改写流程
  • 兼容1.5 V或1.8 V I/O供电
  • 边界扫描加速PCB测试

应用

文档

设计资源

开发者社区

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